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  • 钙钛矿/晶硅叠加钙钛矿组件EL测试仪
    同步实现钙钛矿层与晶硅层的EL测试，提供独立测试结果。
  • 钙钛矿/晶硅叠加钙钛矿组件2DPL测试仪
    同步实现钙钛矿层与晶硅层的PL测试，提供独立测试结果。
  • 线扫EL外观测试仪（F4-EVR）
    以线扫成像替代传统面阵成像，将AI缺陷检测直接集成到生产线或独立设备中，性价比高且易于自动化。
  • 接线盒缺陷检测仪（JB-AI）
    智能AI检测组件接线盒中的虚焊、焊偏、缺胶及二极管错接问题。
  • 组件2DPL测试仪
    国内首创针对0BB、覆膜及点胶工艺的解决方案，采用多激光模块和非接触式近红外成像激发技术。
  • 电池1D1D2D PL测试仪（112-PL）
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